富山大学の機器分析施設の共用機器(分析装置)を紹介いたします。 種々の分析にご活用下さい。詳細(学内外の種別等)は下記の「機器分析施設」ま[...]
第2回機器分析・計測セミナー
集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
ウルトラミクロトーム を用いた試料作製セミナー開催!
機器分析施設による上記セミナーが下記のとおり実施されました。
【日時】 11月1日(木) 9:20~12:00
【場所】 富山大学工学部管理棟2階 大会議室
【プログラム】
9:20 「FIBの原理と最新アプリケーションのご紹介」
講師:日立ハイテクノロジーズ株式会社科学システム製品本部
アプリケーション開発部 伊藤 勝治 氏
10:30 「ウルトラミクロトームを用いた高分子加工の応用例」
講師:ライカマイクロシステムズ株式会社テクノロジー事業部
シニアアプリケーションスペシャリスト 伊藤 喜子 氏