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集束イオンビーム加工観察装置/試料作製セミナー(11/1)終了

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第2回機器分析・計測セミナー
集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
ウルトラミクロトーム を用いた試料作製セミナー開催!


機器分析施設による上記セミナーが下記のとおり実施されました。

日時】 11月1日(木) 9:20~12:00
場所】 富山大学工学部管理棟2階 大会議室
プログラム
 9:20 「FIBの原理と最新アプリケーションのご紹介
    講師:日立ハイテクノロジーズ株式会社科学システム製品本部
                     アプリケーション開発部  伊藤 勝治 氏

10:30 「ウルトラミクロトームを用いた高分子加工の応用例
    講師:ライカマイクロシステムズ株式会社テクノロジー事業部
               シニアアプリケーションスペシャリスト 伊藤 喜子 氏

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