お知らせ

集束イオンビーム加工観察装置/試料作製セミナー(11/1)終了

お知らせ

第2回機器分析・計測セミナー
集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
ウルトラミクロトーム を用いた試料作製セミナー開催!


機器分析施設による上記セミナーが下記のとおり実施されました。

日時】 11月1日(木) 9:20~12:00
場所】 富山大学工学部管理棟2階 大会議室
プログラム
 9:20 「FIBの原理と最新アプリケーションのご紹介
    講師:日立ハイテクノロジーズ株式会社科学システム製品本部
                     アプリケーション開発部  伊藤 勝治 氏

10:30 「ウルトラミクロトームを用いた高分子加工の応用例
    講師:ライカマイクロシステムズ株式会社テクノロジー事業部
               シニアアプリケーションスペシャリスト 伊藤 喜子 氏

2018.11.1

機器分析施設ホームページリニューアルオープンしました【2018.11.26】

機器分析施設のホームページがリニューアルされました。 URL= https://kiki.ctg.u-toyama.ac.jp/[...]

記事を読む

群馬大学の機器分析センターを訪問・見学しました【2018.10.03】

10月3日(水)に群馬大学 研究・産学官連携推進機構の、機器分析センターを訪問・見学し双方の「設備サポートセンター整備事業」の活動について情[...]

記事を読む

ホームページをオープンいたしました

「富山大学 設備サポートマネジメントオフィス」のホームページを10月よりオープンいたしました。 興味のある方は 下記も閲覧お願いします[...]

記事を読む