第2回機器分析・計測セミナー
集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
ウルトラミクロトーム を用いた試料作製セミナー開催!
機器分析施設による上記セミナーが下記のとおり実施されました。
【日時】 11月1日（木） 9：20～12：00
【場所】 富山大学工学部管理棟2階 大会議室
【プログラム】
9：20 「FIBの原理と最新アプリケーションのご紹介」
講師：日立ハイテクノロジーズ株式会社科学システム製品本部
アプリケーション開発部 伊藤 勝治 氏
10：30 「ウルトラミクロトームを用いた高分子加工の応用例」
講師：ライカマイクロシステムズ株式会社テクノロジー事業部
シニアアプリケーションスペシャリスト 伊藤 喜子 氏
